+(212) 5 22 80 69 87 | +(212) 5 22 80 69 88 | +(212) 5 22 81 54 82
+(212) 5 22 80 07 98
Plateforme optique AFM
Conçu pour être combiné avec les spectroscopies optiques
La plate-forme AFM permet une utilisation entièrement intégrée de la microscopie Raman confocale et de l’AFM pour les spectroscopies optiques améliorées de pointe (telles que la spectroscopie Raman améliorée de pointe (TERS) et la photoLuminescence améliorée de pointe (TEPL)), mais aussi pour l’ AFM véritablement colocalisé . Mesures Raman .
La myriade de techniques AFM ( Atomic Force Microscope ) qui permettent d’étudier les propriétés topographiques, électriques et mécaniques peut être réalisée avec n’importe quelle source laser disponible dans le spectromètre Raman , ou avec un autre éclairage externe (par exemple, simulateur solaire ou autre source accordable ou continuum). TERS et TEPL peuvent fournir des informations chimiques et structurelles à l’échelle nanométrique, faisant de la plate – forme AFM-Raman une route à double sens; où les techniques complémentaires offrent des capacités d’imagerie nouvelles et uniques les unes aux autres.
Plateforme optique AFM
Conçu pour être combiné avec les spectroscopies optiques
La plate-forme AFM permet une utilisation entièrement intégrée de la microscopie Raman confocale et de l’AFM pour les spectroscopies optiques améliorées de pointe (telles que la spectroscopie Raman améliorée de pointe (TERS) et la photoLuminescence améliorée de pointe (TEPL)), mais aussi pour l’ AFM véritablement colocalisé . Mesures Raman .
La myriade de techniques AFM ( Atomic Force Microscope ) qui permettent d’étudier les propriétés topographiques, électriques et mécaniques peut être réalisée avec n’importe quelle source laser disponible dans le spectromètre Raman , ou avec un autre éclairage externe (par exemple, simulateur solaire ou autre source accordable ou continuum). TERS et TEPL peuvent fournir des informations chimiques et structurelles à l’échelle nanométrique, faisant de la plate – forme AFM-Raman une route à double sens; où les techniques complémentaires offrent des capacités d’imagerie nouvelles et uniques les unes aux autres.